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XFlash® 6 | 10 – Der bestauflösende SDD

XFlash® 6 | 10

Das Herzstück dieses Röntgendetektors der neuesten Generation ist ein Siliziumchip, der nach dem Drift-Kammer-Prinzip funktioniert. Aufgrund des speziellen Chip-Designs mit integriertem Ladungsverstärker kann der XFlash® extrem hohe Eingangsimpulsraten bei gleichzeitig exzellenter Energieauflösung verarbeiten. Seine Performance wird von keinem anderen siliziumbasierten energiedispersiven Detektor erreicht.

Der XFlash® 6 | 10 bietet folgende Vorteile:

  • Herausragende Energieauflösung (Limited Edition mit 121 eV bei Mn-Kα, 38 eV bei C-Kα und 47 eV bei F-Kα verfügbar)
  • Andere lieferbare Auflösungen sind 123, 126 und 129 eV bei Mn-Kα
  • Extrem hohe Impulsbelastbarkeit
  • Ausgezeichnete Leichtelement- und Niedrigenergie-Performance (Elementbereich Be - Am)
  • Keine aufwändige, Vibrationen verursachende Kühlung
  • Sofort nach nach dem Einschalten betriebsbereit
  • Niedrige Betriebskosten
  • Wartungsfreier Betrieb
  • Kleine Abmessungen, beinhaltet einen Messfinger in Slim-line-Ausführung
  • Niedriges Gewicht

Empfohlene Einsatzbereiche für den XFlash® 6 | 10 sind

  • EDS-Systeme für REM, Mikrosonde und FIB-REM (Faltenbalg als Option erhältlich)
  • Leichtelement- und Niedrigenergiebereichsanalysen