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XFlash® 6 | 100 – Der SDD mit der größten Fläche für Anwendungen mit niedrigem Strahlstrom

XFlash® 6 | 100

Sehr spezielle Situationen benötigen sehr spezielle Detektoren. Der XFlash® 6 | 100 ist für solche Situationen, bei denen nur ein kleines Röntgensignal verfügbar ist, gebaut. Das ist zum Beispiel der Fall, wenn ein REM mit kaltem Feldemitter eingesetzt wird oder wenn sehr empfindlicher Proben untersucht werden sollen. Die große aktive Fläche von 100 mm2 und die schmale Endkappe bieten maximalen Raumwinkel und gestatten Spektrenakquisition sogar unter diesen widrigen Bedingungen. Gleichzeitig verfügt der XFlash® 6 | 100 über die selbe hohe Impulsbelastbarkeit, wie die kleineren Detektoren (bis zu 1500 kcps am Eingang), ein wahrlich einzigartiger Detektor für die EDS-Analytik.

Der XFlash® 6 | 100 bietet folgende Vorteile:

  • Gute Energieauflösung (129 eV bei Mn-Kα, 57 eV bei C-Kα und 67 eV bei F-Kα)
  • Extrem hohe Impulsbelastbarkeit
  • Gute Leichtelement- und Niedrigenergie-Performance (Elementbereich Be - Am)
  • Keine aufwändige, Vibrationen generierende Kühlung
  • Sofort nach dem Einschalten betriebsbereit
  • Niedrige Betriebskosten
  • Wartungsfreier Betrieb
  • Kleine Abmessungen
  • Geringes Gewicht, beinhaltet einen Messfinger in Slim-line-Ausführung

Empfohlene Anwendungsbereiche für den XFlash® 6 | 100 sind

  • EDS-Systeme für REM, Mikrosonde und FIB-REM (Faltenbalg als Option verfügbar)
  • Analytik bei niedrigem Strahlstrom oder von empfindlichen Proben (REMs mit kaltem Feld-Emitter)