Banner for QUANTAX EDS on TEM

XFlash® 6T | 60

Der SDD mit dem großen Raumwinkel für TEM-Analytik im nm-Bereich und darunter

XFlash® 6T | 60

Der Chip mittlerer Größe, mit einer aktiven Fläche von 60 mm2, der in einem Slim-line Detektorfinger montiert ist, bietet einen großen Raumwinkel und hohen Abnahmewinkel. Der XFlash® 6T | 60 ist dafür für Applikationen, die nur eine geringe Röntgenausbeute haben, bestens geeignet. So z.B. für Spektrometrie mit atomarer Auflösung, Experimente, bei denen eine Zonenachse eingehalten werden muss und die Probe nicht gekippt werden kann, sowie empfindliche Proben (Graphen, biologische Proben). Mit 126 eV bei Mn-Kα bietet der Detektor eine sehr gute Energieauflösung.

Der XFlash® 6T | 60 bietet folgende Vorteile

  • Sehr gute Energieauflösung (126 eV bei Mn-Kα, 51 eV bei C-Kα und 60 eV bei F-Kα erhältlich)
  • Weitere verfügbare Auflösung ist 129 eV bei Mn-Kα
  • Extrem hohe Impulsbelastbarkeit
  • Ausgezeichnetet Leichtelement- und Niedrigenergie-Performance (Elementbereich Be - Am)
  • Standardmäßiger Faltenbalg
  • Vibrationsfreie Kühlung
  • Sofort nach dem Anschalten betriebsbereit
  • Wartungsfreier Betrieb
  • Niedrige Betriebskosten
  • Kleine Abmessungen, inklusive Slim-line Detektorfinger
  • Geringes Gewicht
  • Fensterlose Version auf Anfrage

Empfohlene Einsatzgebiete für den XFlash® 6T | 60 sind

  • Anwendungen mit geringer Röntgenausbeute am TEM und STEM, inklusive aberrationskorrigierter Elektronenmikroskopie