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Slim-line Technologie

Spektrenakquisition unter bestmöglichen Bedingungen

Icon Slim-line Detector Technology

Alle XFlash® 6 T Detektoren sind in Slim-line Technologie ausgeführt und verfügen über ein leichtes kompaktes Design. Das Ergebnis sind optimale Messbedingungen in der Transmissionselektronenmikroskopie, insbesondere große Raum- und Abnahmewinkel.

Take-off Angle of a TEM Detector

Die Slim-line Technologie ermöglicht einen optimalen Detektor-Proben-Abstand, um einen maximalen Raumwinkel zu gewährleisten. Hinzu kommt, dass sie die bestmögliche Detektor- und Kollimationsgeometrie mit großem Abnahmewinkel bietet, was wichtig ist, um weniger Absorptionseffekte, weniger nicht echte Peaks und ein gutes Peak-zu-Untergrund-Verhältnis zu garantieren.