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顕微鏡とナノインデンテーションによる新たなソリューション!

ブルカーは各種顕微鏡と組み合わせるナノインデンテーションシステムを開発、新たなナノ力学特性、ナノトライボロジー特性評価手法をご提供します。定量的なナノ力学特性評価試験と顕微鏡の観察技術を組み合わせることで、ナノスケールでの力学挙動をより正確にin-situ(その場観察)で確認することができます。


On Off
surface analysis
PI 85l SEM Picoindenter icon

PI 85L SEM PicoIndenter

SEM(走査電子顕微鏡)中で行うin-situナノ力学特性評価ベーシックモデル

 

PI 88 SEM Picoindenter icon

PI 88 SEM PicoIndenter

SEM、FIB/SEM中で行うin-situナノ力学特性評価ハイエンドモデル

 

PI 95 TEM Picoindenter icon

PI 95 TEM PicoIndenter

TEM(透過電子顕微鏡)中で行うin-situナノ力学特性評価モデル

 

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IntraSpect 360

X線顕微鏡、X線CT、ビームライン中で行うin-situナノ力学特性評価モデル

TS 75 Product image v1

TS 75 TriboScope

ブルカーのAFM(原子間力顕微鏡)に取り付けてナノインデンテーションを行う専用アタッチメント

BioSoft In-Situ Indenter

BioSoft In-Situ Indenter

バイオマテリアルやハイドロゲルなど柔らかい材料を定量評価する倒立顕微鏡取り付け型インデンター