View across the water of the Busan skyline illuminated in different colours at night
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9월 10-15일 | 부산, 대한민국

Bruker at IMC20 

Bruker의 고가치 솔루션으로 현미경 기반 연구를 향상시키세요

 

Booth C-13 에서 부르커를 만나실 수있습니다. 

 IMC20 - 제 20회 국제현미경학술대회

9월 10일부터 15일까지 한국 부산의 IMC20에서 열리는 브루커와 함께 현미경 기반의 연구를 향상시킬 수 있는 광범위한 분석 도구에 대해 자세히 알아보십시오.

브루커의 시스템은 추가 기능으로 전자 현미경을 증강하는 데 사용될 수 있으며, 연구자들이 SEM 또는 TEM을 사용하여 원소 및 미세 구조 매핑을 수행할 수 있습니다. 당사의 전자 현미경 분석기 범위에는 SEM의 EDS, EBSD, WDS 및 마이크로 XRF용 시스템이 포함되어 2차원 샘플에 대한 포괄적인 원소 및 구조 분석을 용이하게 합니다. 또한, 당사의 피코인덴터를 사용하여 SEM 내에서도 나노 기술 테스트가 가능합니다.

다양한 적외선 현미경을 사용하여 샘플의 초고속 화학 매핑이 가능합니다. 연구자는 FT-IR, 적외선 레이저 이미징(QCL) 또는 두 가지 기술을 사용하여 샘플의 초고속 화학 매핑을 동시에 수행할 수 있습니다.

또한 당사는 고급 턴키 원자력 현미경의 형태로 재료의 완전한 나노 기계적 특성화를 위한 시스템을 제공합니다.

당사의 광범위한 현미경 솔루션과 이 솔루션이 IMC20의 연구에 가져올 수 있는 모든 가능성에 대해 귀하와 논의하게 되어 기쁩니다. C-13 부스의 브루커를 방문하여 당사의 대표자와 이야기하고 자세한 내용을 알아보십시오. 

해결해야 할 구체적인 질문이나 문제가 있거나 프라이빗한 문의가 필요한 경우 비공개 회의를 할 수 있습니다. "브루커와의 미팅 예약" 배너를 이용하여 미팅에 대한 문의사항을 등록하십시오.

DEMOS

Experience our Breakthrough Detector Technology for SEM-Based Analysis

Be one of the first to experience the power of the next-generation of EBSD and EDS detectors with live, one-on-one demos at the Bruker booth (no. 125), this IMC. 

If you are not able to attend the conference we will also offer live, online demos once the conference has ended. Just select the "online" option in the form. 

 

eWARP: Enter the New Era of EBSD 

eWARP is our revolutionary EBSD detector that has been changing the EBSD landscape since its release last year. Using unique, award-winning WARP hybrid pixel sensor to deliver unprecedented analysis speeds and spatial resolution. 

 

XFlash® 7: Meet the Latest Hero of EDS 

Sign up for a demo to be one of the first to experience our revolutionary EDS detector. 

 

Meet with Bruker at IMC

Bruker will be in attendence throughout all of IMC21.

To learn more about our new and exciting breakthrough detector technology, and how it could benefit your research, visit Bruker at booth 125 throughout the exhibition

We are excited to be contributing towards the congress with a range of talks and poster presentations covering subjects including Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM), Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS) and STEM EDS. Find the full schedule below. 

 

Meet our Experts

Our specialists will be available throughout the congress to discuss EBSD, EDS, materials characterization workflows, electron microscopy applications, Micro-CT and 3D X-ray microscopy.

Book a one-to-meeting to discuss your application in detail here. 

Exhibition Opening Times

  • Monday 31 August, 9:30 - 18-30
  • Tuesday 1 September, 9:30 - 18:30
  • Wednesday 2 September, 9:30 - 18:30
  • Thursday 3 September, 9:30 - 18:30

Poster presentations daily from 17:30 - 18:30 

Attend our Scientific Contributions at IMC21

Talks
  • Towards surface science in the STEM: recent advances in atomic resolution secondary electron imaging
    Presenter:
    Joel Martis
    Date & Time: Tuesday, 1 September | 11:05–11:20
    Symposium (Session): Surface Sensitive Microscopy, Analysis and Sample Manipulation (SEM, FIB, Helium Microscopy, LEEMS and PEEMS etc)
  • Liquid-Helium-Cooled STEM with Double-Tilting
    Presenter:
    Cameron Johnson
    Date & Time: Tuesday, 1 September | 15:45–16:15
    Symposium (Session): Innovating Microscopy End-to-End: Hardware, Automation, and AI in Honour of Albert Crewe
  • Advanced Multi-Segment EDS Detectors for High-Speed, High-Accuracy Elemental Analysis
    Presenter: Sebastian Schmidt
    Date & Time: Wednesday, 2 September | 16:00–16:15
    Symposium (Session): 1c (Auditorium) - ICMA Vendor Session
  • Plenary Lecture - Niklas Dellby (Vernon Cosslet Medal 2025)
    Presenter:
    Niklas Dellby
    Date & Time: Friday, 4 September | 10:45–11:15
    Symposium (Session): Plenary Lecture - Niklas Dellby (Vernon Cosslet Medal 2025)
Posters
  • From comparative to coincidence spectroscopies: Instrumentation for cathodoluminescence, light injection and EELS in STEM
    Presenter:
    Luiz Tizei
    Date & Time: Tuesday, 1 September | TBD
    Symposium (Session): Innovating Microscopy End-to-End: Hardware, Automation, and AI in Honour of Albert Crewe
  • Correlation of EDS and EELS Elemental Mapping: the Power of Peak Deconvolution in STEM EDS
    Presenter:
    Julien Aubourg
    Date & Time: Wednesday, 2 September | 17:30–18:30
    Location: Poster Session 3, Exhibition Hall
  • Optimizing Electron Beam and Hardware Parameters for Enhanced EDS Map Spectral Data Quality
    Presenter:
    Purvesh Soni
    Poster ID: IP3 055
    Date & Time: Wednesday, 2 September | 17:30–18:30
    Location: Poster Session 3, Exhibition Hall

브루커 미팅 예약하기

브루커와의 비공개 미팅을 예약하려면 아래 양식을 작성해 주세요. 그러면 담당자가 연락을 드릴 것입니다. 

컨퍼런스 현장에서 만나 뵐 수 있으며, 참석이 어려운 분들을 위해 컨퍼런스 종료 후 온라인으로도 미팅을 주선해 드릴 수 있습니다.

주요 도구 및 기술

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