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QUANTAX EBSD 및 SEM PicoIndenters

연구자와 엔지니어는 브루커의 QUANTAX EBSD 시스템과 새로 도입된 SEM PicoIndenter  나노기계 도구의 결합을 통해 indentation 측정에서 추출한 기계적 특성과 EBSD가 제공하는 미세구조적 특성의 연관성을 파악하여, 응력에 대한 물질의 기계적 반응을 보다 심도있게 파악할 수 있습니다.

이러한 강력한 조합의 대표적인 활용 분야는 다음과 같습니다 :

  • Indent 아래의 변형 부위의 3D EBSD/EDS 분석을 통한 금속 물질의 변형 메커니즘 연구
  • PicoIndenter를 이용하여 in-situ 변형된 캔틸레버의 Residual strain 분석
  • Push-to-Pull 옵션을 이용한 전자 투과 시료의 in-situ tensile 시험, 그리고 OPTIMUS TKD 솔루션을 이용한 결정 방향 맵핑 및 Bright Field / Dark Field 이미징을 통한 미세구조 진화의 특성 분석
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This image was acquired from a heat treated duplex steel sample after the indentation tests using the three lower diodes of ARGUS imaging system. The image shows topography and color-coded orientation contrast.

QUANTAX EBSD System

QUANTAX EBSD 는 효과적인 기능과 사용이 간편한 브루커의 전자 후방산란 회절 분석 시스템입니다. 이 시스템은 모든 EBSD 활용 분야에서 기술을 선도하는 검출기 아키텍처와 탁월한 성능을 지원하는 우수한 e-Flash 검출기 시리즈를 포함합니다.

QUANTAX EBSD 시스템은 ARGUSTM 전방산란 (FSE) / 후방산란 전자(BSE) 이미징 시스템과 함께 옵션으로 제공됩니다. 화면 아래에 위치한 3대의 FSE 검출기는 컬러 코딩된 방향 대비 이미지 획득에 사용됩니다. Phosphor screen 위에 위치한 2대의 BSE 검출기를 추가로 사용해, 위상 대비 이미지를 획득할 수 있습니다.

SEM PicoIndenters

브루커의 SEM PicoIndenter instruments는 주사 전자현미경과 인터페이스로 연결할 수 있는 깊이 감지 나노기계 테스트 도구입니다. 이 도구를 사용하면 현미경으로 이미지를 동시에 입수하면서 나노기계적 특성을 양적으로 측정할 수 있습니다.

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Application Note EBSD-05 - Enhanced Nanoinentation of Duplex Stainless Steel