Dimension HPI AFM
Dimension HPI Overview | Industrial Atomic Force Microscope
DimensionIconXR webslider 2018.134
DataCubes webslider 2019.051
NanoElectrical Lab
NDMA webslider 2018.135
Nanomechanics Lab banner v1
NanoMechanics Lab

Rasterkraftmikroskope

Hochauflösende AFM-Systeme mit PeakForce Tapping®

High Resolution SPM
Bruker AFM

Hochauflösende Rasterkraftmikroskope

Die Rasterkraftmikroskopie ist seit über 30 Jahren das am meisten verwendete Verfahren in der Mikroskopie. Dank ihrer hohen Auflösung ist sie zu einem wichtigen Hilfsmittel in der Forschung auf zahlreichen Gebieten geworden. Bruker war von Anfang an führend in der Weiterentwicklung der Funktionen von Rasterkraftmikroskopen (AFM, atomic force microscope). Unsere Systeme werden weltweit am häufigsten genannt. Allein im vergangenen Jahr haben wir zur Verbesserung unserer Produkte mit Forschern verschiedener Gebiete zusammengearbeitet. Im Bereich der Naturwissenschaften haben wir innovative Funktionen entwickelt, in den Bereichen Materialforschung und industrielle Produktion überwältigende Ergebnisse bei Auflösung und Schnelligkeit erzielt und für die Nanotechnologie unsere Rasterkraftmikroskope mit neuen mechanischen und elektrischen Modi ausgestattet.


Alle unsere hochauflösenden Rasterkraftmikroskope sind zusätzlich zu den Standardmodi für die Bildgebung wie Kontakt-Modus und intermittierender Modus (Tapping Mode™) mit dem von uns eigens entwickelten PeakForce Tapping®-Modus ausgestattet. Dies ermöglicht neuartige Forschung anhand einzigartiger mechanischer, elektrischer und chemischer Messungen im Nano-Bereich, was in bereits über 1.000 Peer-Review-Veröffentlichungen aufgezeigt wurde. Wir sind weltweit der einzige Hersteller von Rasterkraftmikroskopen mit einer hochmodernen Anlage zur Nanoherstellung von Messköpfen sowie einem anwendungsspezifischen Kundenservice. Damit sind wir bestens positioniert, um unsere Kunden mit den Apparaten, der Beratung und der Betreuung für alle Belange im Bereich der Nanotechnologie zu versorgen.

nano research, afm topography
Multimode 8-HR AFM
High Resolution AFM

Produktlinks