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Rasterkraftmikroskope für große Proben

Nur die Rasterkraftmikroskope für große Proben von Bruker liefern Bildauflösungen von Punktfehlern dank des flexiblen Objekttisches. Diese ultraschnellen Rasterkraftmikroskope bieten dieselbe Hochauflösung wie die besten AFM-Systeme für kleine Proben und wurden so geräuscharm und so wenig abweichungsanfällig wie möglich konstruiert. Forscher können nun störungsfreie, hochaufgelöste Bilder in nur wenigen Minuten erstellen. Unter Verwendung der exklusiven Abtastmethode PeakForce Tapping® liefern die Rasterkraftmikroskope für große Proben von Bruker nicht nur topografische Daten, sondern auch quantitative mechanische und elektrische Daten von Echtzeitveränderungen im Nano-Bereich.

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Einzigartiges Leistungsvermögen

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Das weltweit meistgenutzte Rasterkraftmikroskop für große Proben.

FastScan 230x187

Dimension FastScan

Das Muster-Rasterkraftmikroskop für Forschung im Nano-Bereich

 

 

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Dimension Edge

Das Hochleistungsrasterkraftmikroskop mit dem besten Preis-Leistungs-Verhältnis