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Análisis de un material con fases de simetría baja

El análisis de fases de simetría baja, contenidas a menudo en muestras mineralógicas, no es una tarea fácil. Para el análisis de este tipo de muestras se necesita o bien un recubrimiento conductor o utilizar el modo de bajo vacío del SEM. Los dos métodos afectan a la calidad de los patrones.

Este ejemplo de una plagioclasa (triclínica) demuestra la posibilidad de analizar muestras de este tipo con resultados satisfactorios. En este caso se obtuvo una tasa de aciertos de 89,6 % sin aplicar limpieza de datos.