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테스트 및 표면 측정

3D 광학 프로파일러

3D 표면 측정 및 검사 분야의 세계적인 선두 업체

신속하고 비 접촉식의 3D 광학 프로파일링

Bruker is the industry-leading provider of 3D surface measurement and inspection solutions, offering systems for fast, reliable, and easy-to-use non-contact analyses with best-in-class accuracy on samples ranging in size from microscopic MEMS to entire engine blocks. They provide researchers and engineers in R&D, manufacturing, and quality control the industry-leading sensitivity and stability necessary for precision 3D surface measurements in applications and environments that are challenging for other metrology systems.

 

당사의 광학 프로파일링 계측 시스템은 10세대에 걸친 독점적인 Wyko® WLI(White Light Interferometry) 기술과 Bruker의 진보를 기반으로 전 세계 실험실 및 생산 환경에서 최첨단 R&D, QA 및 QC를 지원하는 입증된 기록을 보유하고 있습니다.

제품

최고의 3D 광학 프로파일러 알아보기

Benchtop 3D Optical Profilometers

ContourX-100

ContourX-100

거칠기 계측을 위한 최신식의 경제적인 benchtop
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컨투어X-200 3D 광학 프로피로미터

ContourX-200

표면 텍스처 계측을 위한 유연한 benchtop
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컨투어X-500 3D 광학 프로피로미터

ContourX-500

3D 계측을 위한 완전 자동화된 benchtop
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Floor-Standing 3D Optical Profilometers

NEW ContourX-1000

연구 및 생산을 위해 완전 자동화된 셀프 칼리브레이션
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NEW NPFLEX-1000

빠르고 자동화된 거칠기 및 표면 질감 측정을 위한 가장 유연한 대형 샘플 정밀 제조 솔루션
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ContourSP 3D 광학 프로파일러

ContourSP

대용량, 고정밀 PCB생산 제어를 위한 large-panel 계측 시스템
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HD9800+ 3D 광학 프로파일러

HD9800+

데이터 저장 산업용 대형 포맷 표면 프로파일링 시스템
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응용 프로그램

Surface-Independent Metrology with Application-Specific Solutions

Precision Engineering

Keep the surface texture and geometric dimensions of precision-engineered parts within tight specification limits. Our gage-capable measurement systems provide efficient feedback and reporting as you monitor, track, and evaluate processes and assess GD&T conformance.

MEMS and Sensors

Perform high-throughput, highly repeatable etch depth, film thickness, step-height, and surface roughness measurements, as well as advanced critical dimension metrology of MEMS and optical MEMS. Optical profiling can characterize devices throughout the manufacturing process from wafer to final test, and even through transparent packaging.

Orthopedics/Ophthalmics

Obtain precise, repeatable measurements of implant materials and components through the complete product life cycle. Our WLI optical profilers support R&D, QA, and QC analyses, for applications ranging from characterization of surface parameters of lens and injection molds to surface finish verification and wear of medical devices.

Tribology

Measure, analyze, and control the impact of friction, wear, lubrication, and corrosion on material/component performance and lifespans. Determine quantitative wear parameters and perform fast pass/fail inspections on the widest range of shiny, smooth, or rough surfaces.

Semiconductors

Improve yield and reduce costs for both front- and back-end manufacturing processes with automated, non-contact, wafer-scale metrology systems. Perform post-CMP die flatness inspection; bump height, coplanarity, and defect identification and analysis; and measure the critical dimensions of component structures.

Optics

Better understand the root causes of defects and optimize polishing and finishing processes with accurate and repeatable sub-nm roughness measurements. Our non-contact metrology systems enable compliance with increasingly stringent specifications and ISO norms for samples ranging from small aspheric and free-form optics, to optical components with complex geometries, to diffraction gratings and microlenses.

3D 광학 프로파일러에 대해 더 알아보기

3D Surface Measurements

3D Surface Measurements

The history, development, advantages and applications
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Considering Confocal Microscopy

Considering Confocal Microscopy - Why Compromise?

Bruker 3D optical microscopes provide gage-capable metrology without limitations
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Wyko Veeco History

Wyko Veeco History

The Wyko surface optical profiler heritage of Bruker’s 3D optical microscopes
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White Light Interferometry

Accurate 3D optical metrology independent of surface characteristics

Universal Scanning Interferometry

Adaptive surface intelligence to capture simultaneous sub-nm surface texture and step heights

Elite Enhanced Imaging

Through-focus high fidelity imaging while maintaining high precision WLI metrology

당사의 3D 광학 프로파일러 웨비나 보기

당사의 웨비나는 모범 사례를 다루고, 신제품을 소개하고, 까다로운 질문에 대한 빠른 솔루션을 제공하고, 새로운 애플리케이션, 모드 또는 기술에 대한 아이디어를 제공합니다.

리소스

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Other Resources

The Advantages of Using White Light Interferometry to Measure Surface Roughness

Written by Samuel Lesko, Senior Manager for Optical and Tribology Applications, Bruker. Featured in Commercial Micro Manufacturing International 06/21
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서비스 및 지원

어떻게 도와드릴까요?

Bruker는 고객과 협력하여 실제 애플리케이션 이슈를 해결합니다. 당사는 차세대 기술을 개발하고 고객이 적합한 시스템 및 액세서리를 선택할 수 있도록 지원합니다. 이러한 협력은 장비가 판매된 후에도 오랫동안 교육 및 확장 서비스를 통해 계속됩니다.

고도로 훈련된 지원 엔지니어, 애플리케이션 과학자 및 주제 전문가 팀은 시스템 서비스 및 업그레이드뿐만 아니라 애플리케이션 지원 및 교육을 통해 생산성을 극대화하기위해 전적으로 최선을 다하고 있습니다.

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