Large sample atomic force microscopes

Large-Sample AFMs

只有布鲁克的大样品台原子力显微镜提供能够分辨点缺陷的灵活样品台。传统的高分辨原子力显微镜只能在小样品台上实现,而布鲁克的大样品台原子力显微镜在设计上全盘考虑保证了最低的温漂和噪音。现在研究人员能够在几分钟内实现样品的高分辨真实成像,不需要再耗费几个小时。使用专有的PeakForce Tapping技术,布鲁克的大样品台原子力显微镜不仅可测量形貌还能够实时提供纳米机械性能和纳米电学性能的数据。

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纳米尺度研究的最高效原子力显微镜

 

 

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适合更宽应用领域的大样品AFM成像

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最物超所值的高性能原子力显微镜