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XFlash® 6 | 10 – El SDD con la mejor resolución

XFlash® 6 | 10

La pieza principal de esta última generación de detectores de rayos X es un chip de silicio que funciona siguiendo el principio de la cámara de deriva.

Debido al diseño especial de este chip con un amplificador de carga integrado, el  XFlash® puede procesar tasas de impulsos muy elevadas y garantizar al mismo tiempo una excelente resolución energética, no alcanzada por ningún otro detector de rayos X por dispersión de energías a base de silicio.

En resumen, el XFlash® 6 | 10 ofrece las siguientes ventajas:

  • Extraordinaria resolución energética (edición limitada con 121 eV en Mn Kα, 38 eV en C Kα y 47 eV en F Kα disponible)
  • Otras resoluciones disponibles son 123, 126 y 129 eV en Mn Kα
  • Tasas de impulsos extremadamente altas
  • Excelente rendimiento en elementos ligeros y en el rango energético bajo (todas las resoluciones detectan Be - Am)
  • Sin sistemas de refrigeración complejos que puedan producir vibraciones
  • Disponible inmediatamente después del encendido
  • Bajos costes operativos
  • Funcionamiento sin mantenimiento
  • Pequeñas dimensiones, dedo con tecnología de dimensiones reducidas incluido
  • Bajo peso

Áreas de aplicación recomendadas para el XFlash® 6 | 10:

  • Sistemas de EDS para SEM, microsonda, FIB-SEM (fuelle acordeón opcional)
  • Análisis de elementos ligeros y del rango energético bajo