MEMS Gear video mockup
Bruker Logo Image Acquision Banner

Contour K 3D Optical Microscope
Contour K 3D Optical Microscopes
エントリーレベル非接触式高解像度表面形状測定|3次元光学プロファイラー

Contour GTK 330x379

Contour GT-K

走査型白色干渉顕微鏡(CSI)
卓上測定システム

Contour EliteK 330x379

Contour Elite K

走査型白色干渉顕微鏡(CSI)
リアルカラー卓上測定システム

Contour I 3D Optical Microscope MuVi SPIM seperator
電動ヘッドチルト搭載型
ハイパフォーマンスシステム

Contour GTI 330x379

Contour GT-I

走査型白色干渉顕微鏡(CSI)
150mm対応卓上全自動モデル

Contour EliteI 330x379

Contour Elite I

走査型白色干渉顕微鏡(CSI)
リアルカラー150mm対応卓上電動モデル

Contour X 3D Optical Profiler MuVi SPIM seperator
防振台一体型
全自動プレミアムシステム

Contour GTX 330x379

Contour GT-X

走査型白色干渉顕微鏡(CSI)
300mm対応全自動モデル

Contour EliteX 330x379

Contour Elite X

走査型白色干渉顕微鏡(CSI)
リアルカラー150mm対応全自動モデル

Industrial / Commercial Profilers MuVi SPIM seperator
インダストリアルアプリケーション向け
3次元光学プロファイラー


ContourSP fullshot openv1

ContourSP

大型基板の生産管理に対応
ハイパフォーマンスモデル

Hd 9800 330x379

HD9800+

インラインデータストレージの磁気ヘッド計測向け
世界最先端の光学プロファイラー

NPFLEX 3D Metrology System MuVi SPIM seperator
大型重量物測定対応
最もフレキシブルなプロファイラー

NPFLEX 330x379

NPFLEX

大型試料対応,±45°の傾斜調整ヘッドにより傾斜部測定可能
高フレキシビリティモデル