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QUANTAX EBSD

D'excellentes performances pour toutes les applications EBSD

La gamme eFlash: des détecteurs EBSD à la pointe de la technologie

  • e-FlashFS pour des mesures rapides jusqu'à 945 clichés/s (binning de 8x8), précision optimale pour 630 clichés/s (binning de 4x4)
  • ƒƒDétecteur haute résolution e-FlashHD de résolution maximale 1600 x 1200 pixels; vitesse maximale de 170 clichés/s pour un binning de 20x20
  • ƒƒRéglage vertical de l'écran in situ pour collecter le meilleur signal EBSD possible
  • Guidage de haute précision pour un positionnement de l'écran phosphorescent précis à 10 µm
  • Écran et détecteurs FSE/BSE remplaçables par l'utilisateur
  • Fonction unique automatique de rétractation du détecteur après la réalisation de la mesure

Système unique d'imagerie FSE/BSE ARGUS™

Système de détection sophistiqué incluant :

  • Images de contraste de numéro atomique moyen pour les échantillons fortement inclinés
  • Images de contraste d'orientation avec codage couleur grâce à trois détecteurs indépendants
  • Electronique intégrée pour un rapport signal-bruit élevé

Facilité d'utilisation grâce à des aides et des réglages automatiques

  • ƒƒOptimisation automatique du signal du détecteur
  • Etalonnage automatique du détecteur pour des mesures justes
  • ƒƒOutils d'inspection pour le contrôle des données à chaque point d'une carte

Vitesse maximale et fiabilité dans l'acquisition et le traitement

  • Traitement des données en temps réel et contrôle de la qualité d'indexation par pattern streaming
  • ƒƒIndexation éprouvée aux joints de phase ou aux joints de grain
  • ƒƒDéfinition des régions à cartographier au gré de l'opérateur

Intégration EBSD et EDS exceptionnelle dans l'acquisition et le traitement des données

Optimal Position of EBSD and EDS Detectors for Combined Measurement
EBSD and EDS detectors in
optimum position for simultaneous
measurement
  • Intégration avancée avec le système EDS QUANTAX
  • La  position des deux détecteurs peut être optimisée simultanément et sous vide
  • Acquisition  simultanée  des clichés EBSD et des spectres EDS  même à vitesse maximale (945 points/s)
  • Ré-analyse complète des données possible à tout moment

Facilité d'utilisation, flexibilité et vitesse du logiciel inégalées

  • Enregistrement des positions des bandes de Kikuchi et des solutions; enregistrement de clichés en option
  • ƒIdentification de phase a posteriori et ré-analyse des données à très grande vitesse (40 000 points/s)
  • ƒƒAccès rapide à toutes les informations de mesure et de traitement ultérieur grâce à une commutation facile entre les deux environnements de travail
  • ƒƒNombreuses possibilités de présentation des résultats, y compris des données sous forme de points, cartographies, histogrammes et outils de représentation de la texture

Accès direct à toutes les données pour chaque point de mesure

  • L'outil d'inspection "Point Inspector" affiche toutes les données de mesure EBSD et EDS disponibles ainsi que le cliché simulé correspondant

Identification de phase avancée – une excellente solution pour les échantillons multi-phasés et minéralogiques

Matériel informatique et logiciel de technologie moderne incluant :

  • Recherche des phases candidates dans les bases de données  à partir des éléments déterminés par l'analyse chimique
  • Utilisation de toutes les phases candidates pour l'indexation du cliché  sélectionné (ou, en si le cliché n'a pas été sauvé, des bandes de Kikuchi détectées)
  • Classification immédiate des phases candidates à partir de la qualité de l'indexation (accord simulation / cliché mesuré)
  • Utilisation en direct  ou a posteriori pour des données enregistrées

Pour de plus amples informations

QUANTAX EBSD – l'EBSD réinventé (brochure PDF)

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