电子显微镜
从显微镜到有意义的分析
布鲁克公司在显微镜技术（包括电子显微镜）方面拥有悠久的历史。我们提供一系列尖端的 Nion 扫描透射电子显微镜 (STEMs)，以及众多可添加到 Nion ULTRASTEM 或几乎所有任何其它电子显微镜的分析解决方案。
我们的电子显微镜分析仪系列可以提供 SEM、TEM 或 STEM 以及额外的分析功能，使得用户能够进行详细的元素、组成和微观结构分析。该系列包括业界领先的能量色散型X 射线光谱分析 (EDS)、波长色散型 X 射线光谱分析 (WDS)、电子背散射衍射 (EBSD) 和扫描电镜上的微区 X 射线荧光分析系统。我们还提供纳米机械测试仪器，用于在原位纳米压痕、压缩、拉伸或弯曲测试中评估样品性质。
电子能量损失能谱学 (EELS)
电子能量损失能谱 (EELS) 用于测量穿过样品的快速电子的能量损失。对于扫描光束，可在样品的每个点上生成光谱，并利用每种元素的特征损失边来生成原子分辨的元素分布图。另外样品的电子结构也可以被检测，包括能带间隙和不同成键环境引起的化学位移。Nion HERMES 还能以接近原子的分辨率探测分子以及含有界面和缺陷的晶体中的声子的振动特性。
超稳定扫描透射电子显微镜 (STEMs)
布鲁克公司的 Nion 扫描透射电子显微镜系列为材料研究带来了无限可能。这些尖端仪器使科学家和工程师能够探索原子尺度的样品结构，并探究四维空间中的原子相互作用。我们的 STEM 采用 Python驱动的 开源软件，从头开始设计，以支持新一代的实验。
系统包括：
Nion ULTRASTEM
Nion ULTRASTEM 的工作电压范围在 30 到 200 kV 之间，采用高亮度、高稳定性冷场发射电子枪 (CFEG)，具有更高的分辨率、更大的探针电流（可提供亚埃级分辨率的成像），通过使用原子尺度的电子探针，以及与各种探测器的高效耦合来实现快速纳米分析。
Nion HERMES
布鲁克公司的 Nion 高能分辨率单色EELS STEM, HERMES,将高亮度冷场发射电子枪 (CFEG) 与最先进的单色器和电子能损失谱 (EELS) 相结合，成功在电子显微镜上实现了最高水平的原子分辨成像、化学绘图、4D-STEM 和振动光谱分析。
电子显微镜上的元素分析和显微分析
布鲁克电子显微镜分析综合解决方案, 包含 SEM 和 TEM 平台的 EDS , WDS, EBSD 和SEM 上的 Micro-XRF，可提供全面的材料成分和结构分析结果。不仅如此，每种分析设备与ESPRIT软件的完全集成使得通过这些互补的检测方法获得的数据可以简单的进行组合分析 , 帮助研究人员更简单快捷的获得最佳结果并看到分析样品的全貌。
纳米力学性能分析仪
布鲁克公司的 Hysitron原位纳米压痕仪助力您在电子显微镜中轻松进行原位机械实验。我们独特的传感器设计确保了整个实验过程的稳定性，即使在纳米尺度上也能生成精确的数据。将显微镜的视频捕捉与原位机械测试数据进行关联，可实现实时监控，促进对纳米级材料特性的了解。可用模式包括纳米压痕、压缩、拉伸和弯曲测试，还提供其他配件，以方便进行高温和低温实验。
