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Analysesysteme für Elektronenmikroskope

QUANTAX EBSD

On-Axis TKD für unübertroffene Leistung

Beste räumliche Auflösung

Niedrige Strahlströme

QUANTAX EBSD eFlashHD BRUKER

Highlights

1,5
nm
Effektive räumliche Auflösung
Unübertroffene Leistung durch einzigartige On-Axis-TKD mit optimaler Probe-Detektor-Geometrie
2
na
Maximal erforderlicher Strahlstrom
On-Axis TKD ermöglicht Messungen bei niedrigem Strahlstrom ohne Beeinträchtigung der Geschwindigkeit und Datenqualität
125.000
pps
Ultraschnelle Erfassung von FSE-, BSE- und STEM-Bildern
Kontrastreiche und geräuscharme Bildgebung innerhalb von Sekunden mit dem unübertroffenen ARGUS-Bildgebungssystem

Orientierungsmaps von Nanomaterialien mit unübertroffener räumlicher Auflösung

Das QUANTAX EBSD-System mit dem OPTIMUS TKD-Detektorkopf ist die beste verfügbare Lösung für die Analyse von Nanomaterialien im REM, weil es:

  • die beste räumliche Auflösung von bis zu 1,5 nm bietet
  • mit niedrigen Strahlströmen ohne Kompromisse bei der Geschwindigkeit und/oder Datenqualität arbeitet
  • die einzige TKD-Lösung ist, die im ultra-hochaufgelösten REM-Modus bei Benutzung von Immersionslinsen anwendbar ist
  • das vollautomatische, integrierte ARGUS-Bildgebungssystem verwendet

Vorteile

Warum brauche ich On-Axis TKD?

  • um die beste räumliche Auflösung zu erreichen
  • für Orientierungsmaps und Phasenzuordnung im REM
  • für schnelles Mapping ohne Kompromisse bei der Datenqualität und                 - integrität
  • zur Erfassung von STEM-ähnlichen Bildern mit hervorragendem Kontrast und bester Auflösung bei höchsten Geschwindigkeiten und mit vollautomatischer Signaloptimierung
  • zur Analyse strahlempfindlicher Materialien mit niedrigen Strahlströmen

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