Large sample atomic force microscopes

AFMs à grand échantillon

Seuls les microscopes à force atomique à grand échantillon de Bruker fournissent une résolution des défauts ponctuels avec une flexibilité de l'étape ouverte. Dotés de performances AFM haute résolution normalement associées aux meilleurs systèmes d'échantillonnage petit, ces AFM haute vitesse ont été conçus de haut en bas pour offrir la plus faible dérive et le bruit. Les chercheurs sont maintenant en mesure d'obtenir des images haute résolution sans artefacts en quelques minutes à la place des heures. En utilisant le PeakForce Tapping exclusif, les AFM de grand échantillon de Bruker vont au-delà de la topographie pour fournir des données quantitatives nanomécaniques et nanoélectriques des changements en temps réel.

FastScan 230x187

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Atteignez l'AFM haute résolution, n'importe quand, chaque fois

 

 

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Atteignez une haute résolution avec confiance - en tout temps, chaque fois

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Les plus hauts niveaux de performance, de fonctionnalité et d'accessibilité dans sa classe