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AFM 扫描模式及检测技术

全套的AFM成像模式,满足各类应用和研究需求

使用布鲁克的原子力显微镜技术,研究材料纳米尺度上各类特性,需要可视化的获得样品的表面形貌或结构特征。但是,形貌表征只是利用AFM进行研究的其中一个重要部分。

在AFM常规测量模式——接触模式和轻敲模式的基础上,布鲁克开发出各种各样的新型扫描模式,测量材料的电学、磁学、力学、电化学等各项性质。

布鲁克创新型PeakForce Tapping技术代表了一类全新的基础扫描模式,作为最新一批检测模式的技术基础,可同时进行样品形貌、电学和机械性质表征。

除了测量样品的表面形貌特征,利用Bruker AFM技术,可以在一个AFM平台上,研究材料的各种性质。根据AFM型号的不同,除了该型号独特的检测功能,可配备多种工作模式,满足客户的不同实验需求。